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微波暗室設(shè)計

微波暗室


微波暗室主要用于對待測件的輻射或散射性能進(jìn)行檢測,主要分為遠(yuǎn)場暗室(含緊縮場,緊縮場主要用于RCS檢測)、平面近場暗室、柱面近場暗室及球面近場暗室。一般大型雷達(dá)天線均采用近場測試,寬波速天線一般采用球面近場和柱面近場測試,隨著對測試要求的提高,多功能暗室(含近場、遠(yuǎn)場及EMC測試與一體)的需求逐步擴(kuò)大。

通過項目建設(shè)提供一個對受試設(shè)備進(jìn)行電磁兼容測試所需的電磁環(huán)境和測試條件,能有效地消除外來電磁波的干擾和各種反射干擾,以獲得可靠、規(guī)范的測試數(shù)據(jù),主要目的是進(jìn)行輻射發(fā)射和抗擾度的符合性測試。



引用標(biāo)準(zhǔn):
GB50826-2012        《電磁波暗室工程技術(shù)規(guī)范》
GB/T12190-2006     《電磁屏蔽室屏蔽效能的測量方法》
GB/T50719-2011     《電磁屏蔽室工程技術(shù)規(guī)范》
GB50017—2003      《鋼結(jié)構(gòu)設(shè)計規(guī)范》
GB50009—2012      《建筑結(jié)構(gòu)荷載規(guī)范》
GB50205—2001      《鋼結(jié)構(gòu)工程施工質(zhì)量驗收規(guī)范》
GB50034-2013        《建筑照明設(shè)計規(guī)范》
GB50052-2009        《供配電系統(tǒng)設(shè)計規(guī)范》
GB50019-2015        《工業(yè)建筑供暖通風(fēng)與空氣調(diào)節(jié)設(shè)計規(guī)范》
GB50116-2013        《火災(zāi)自動報警系統(tǒng)設(shè)計規(guī)范》
GB4717-2015          《火災(zāi)報警控制器》
GB50016-2010        《建筑設(shè)計防火規(guī)范》
GB50057-2010        《建筑物防雷設(shè)計規(guī)范》
GB/T2406-93          《塑料燃燒性能試驗方法氧指數(shù)法》
GB8624-2012         《建筑材料及制品燃燒性能分級》
GJB6780-2009        《微波暗室性能測試方法》
GJB5239-2004        《射頻吸波材料吸波性能測試方法》

微波暗室性能要求
微波暗室性能由獨立的第三方機構(gòu)進(jìn)行測試,主要測試指標(biāo)有屏蔽效能、靜區(qū)性能、場均運行、交叉極化電平等。
屏蔽效能指標(biāo):滿足EN50147-1,GB/T 12190-2006標(biāo)準(zhǔn)。

靜區(qū)性能有待測件及測試要求決定,影響待測件的測量精度。
均勻場性包括縱向場幅均勻性,一般≤±2dB
橫向場幅均勻性,一般≤±0.25dB
交叉極化電平,一般≤25dB
微波暗室規(guī)格
平面近場:可測試體積大、窄波速的雷達(dá)天線。
柱面近場:可測試寬波速大天線。
球面近場:寬波速三維方向圖測試,如普通基站天線、5G天線等。
緊縮場:可進(jìn)行隱身特性測試及遠(yuǎn)場測試。
普通遠(yuǎn)場:主要針對不太大的待測件測試。
仿真暗室:仿真目標(biāo)特性測量。

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