EMC高頻測試桌

     不同材質(zhì)的試驗桌產(chǎn)生最大差異的頻率相同，均在 700~900 MHz 之間。   
     由歸一化場(chǎng)衰減的計算公式可以得出：
     V_R = V_T - AF_T - AF_R - ΔAF_TOT - A_N

     因泡沫的介電常數接近空氣，比木頭小，所以暗室使用泡沫桌時(shí)測得的場(chǎng)地衰減數據與無(wú)測試桌相似；而當暗室使用木桌時(shí)，測得的場(chǎng)地衰減數據與無(wú)測試桌時(shí)的數據存在較大差異。因木桌較大的介電常數使圖 5 中使用木桌的暗室場(chǎng)地衰減 A_N 偏大， 在AF_T、AF_R、ΔAF_TOT 不變的情況下接收機測得的最大測量電平值 V_R 將減小。
     所以，當電波暗室使用木桌或其他較大介電常數材質(zhì)制作的試驗桌等輔助設施時(shí)，會(huì )使場(chǎng)地衰減AN 增大而導致接收機測得的電場(chǎng)強度減小，使測試結果造成差異。試驗桌等輔助設備是試驗場(chǎng)地有效性中不可分割的一部分，因此建議，在選擇暗室輔助設施時(shí)選擇介電常數小的材質(zhì)，并進(jìn)行場(chǎng)地衰減的測量比較，以保障各暗室測量結果的一致性。